logo

热电离飞行时间质谱关键技术研究及设备研制

技术领域:   先进制造与自动化

关  键  词:   热,电离,飞行,时,间质,谱,关键,技术研究,及,设备,研制

所在地区:   

咨询技术经纪人
项目简介合作计划技术信息
项目简介

简要介绍:

本专利针对 TI-MS 测量难以适应宽质量范围不同元素监测的问题,提出了一种具有全谱获取、热色层效应的热电离飞行时间质谱分析检测技术方案,以及一种具有分辨率高、分析速度快、样品用量少等特点的热电离飞行时间质谱仪器技术方案,可用于核级材料中关键元素的同位素测定。

本知识产权对应产品技术优势和性能指标:

基于本专利开发的热电离飞行时间质谱仪,主要技术优势和性能

指标如下:

一、主要技术优势

有效利用飞行时间分析器的全谱分析特性,为地质样品 Pb 同位

素分析建立新的方法,并取得良好的应用效果。

二、主要性能指标

(1)真空系统漏率:<1×10

-9 Pa.m 3 /s;

(2)质量范围:(1~320)amu;

(3)分辨率(50%峰谷):≥2000;

(4)丰度灵敏度:A≤5×10

-4 ;

(5)测量精密度:1%。

技术水平:国内领先 

应用情况:基于本专利开发的质谱仪正处在试生产阶段。

应用前景:主要应用于同位素分析、核级材料分析、环境工程、食品工程等。